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CTE-360 熱膨脹系數(shù)測(cè)試儀可在 -20°C 至 100°C 或 CTE-360LT 的 -30°C 至 100°C 溫度范圍內(nèi)測(cè)量各種材料的熱膨脹系數(shù)。雖然主要用于研究電子封裝應(yīng)用中使用的材料，但它幾乎可以用于此溫度范圍內(nèi)的任何固體、凝膠、糊狀或粘性液體。

材料熱導(dǎo)率測(cè)試儀對(duì)各種材料進(jìn)行批量熱導(dǎo)率測(cè)量的儀器。非常適合開(kāi)發(fā)實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)/質(zhì)量控制環(huán)境。TIM 測(cè)試儀可對(duì)各種材料進(jìn)行整體熱導(dǎo)率測(cè)量，包括電子封裝應(yīng)用的材料類型。使用的測(cè)試方法是 ASTM D5470。

Phase 12B 是 Phase 12 熱分析儀系列的子集。標(biāo)準(zhǔn) Phase 12 熱分析儀和 Phase 12B 之間的主要區(qū)別在于 Phase 12B 有一個(gè)內(nèi)部 100A 功率升壓器。

Analysis Tech Phase 12 熱分析儀是一款全面的半導(dǎo)體熱測(cè)試儀，可提供廣泛的穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)熱測(cè)量，適用于生產(chǎn)和開(kāi)發(fā)環(huán)境，具有強(qiáng)大的功能，廣泛應(yīng)用于二極管、LED、雙極、MOSFET、IGBT、功能 IC、三聚管、測(cè)試芯片等器件。

105 系列瞬斷儀 高通用性中速事件探測(cè)器，這些瞬斷儀監(jiān)測(cè) 32 到 128 個(gè)簡(jiǎn)單連續(xù)回路的電阻，每個(gè)回路由單個(gè)或多個(gè)被測(cè)樣品組成。

32-106 系列瞬斷儀是該產(chǎn)品線中用途多的瞬斷儀。這些瞬斷儀可監(jiān)測(cè)多達(dá) 128 個(gè)簡(jiǎn)單連續(xù)性回路的電阻，每個(gè)回路由單個(gè)或多個(gè)被測(cè)樣品組成。